2022 年最佳剖析師評級

粗糙度計，也稱為輪廓儀，是測量物體表面光滑度的儀器。主要類型的測試儀使用探針或激光進行計算。

在我們的評論中，我們將提供建議：在選擇產品時要尋找什麼以免出錯，購買哪種公司型號更好。我們將熟悉流行的製造商，對他們的設備進行描述，並以平均價格為您定位。

測試人員的類型

獲取任何表面粗糙度的數據，計算曲率係數 - 這些是機械工程師的任務，讓您可以創建準確的模擬模型。人眼看起來光滑的物體對於受過訓練的技術人員來說可能不是那麼理想。確定兩個物體之間發生的摩擦應力的能力使您能夠準確預測特定組件的生命週期。輪廓儀用於確定制動系統內部的表面粗糙度，同時確保最大的車輛安全性。

表面粗糙度根據 ISO 4287 標準從“N12”到“N1”進行分類，它們的測量從 50 µm 到 25 nm 的微觀斜率、峰和谷之間的最大高度差開始。對於設計高精度系統並希望預測其性能、預期生命週期的工程師來說，檢測物體不規則性的能力至關重要：

• 確定兩個接觸體之間發生的剛度；
• 摩擦應力計算；
• 預測連接部件之間的振動風險；
• 根據檢測到的不平整度，選擇合適的刀具來加工工件和其他物體；
• 可以確定潤滑元件是否足夠粗糙以容納油分子。
• 預測制動系統組件的運行；
• 測量薄膜或塗層材料的厚度；
• 確定表面的反射率水平；
• 計算“FDM”單元或 CNC 工具的精度和性能；
• 根據檢測到的裂紋或不規則性預測組件的生命週期、最大效率限制。

讓我們分析一下有效測試器模型的功能，它的受歡迎程度是市場上最高的：

• 第一款帶有金剛石測針的儀器是 KLA 和 Tencor 的 P 6 Stylus。這些是 1940 年代首次推出的原創產品，其操作類似於 LP 播放器。由觸針組成的探頭由反饋機構固定在適當的位置並在被監測的表面上移動，而連接到探頭的槓桿跟隨垂直運動以幫助生成輪廓波形。探頭有幾種類型：

一個。機械的;
灣。感應的；
C。電容；
d。壓電；
e.機械溜冰鞋。

由於信號是由金剛石測針的模擬運動決定的，其尺寸、半徑、夾緊力、傳感器速度是設備精度和分辨率的決定因素。對於需要 10-20nm 粗糙度計算且表面不夠乾淨的應用，金剛石尖端輪廓儀是首選，因此接觸方法更有效，因為表面反射率和著色可以欺騙其他（光學）設備。金剛石測針設備的缺點是它不能用在柔軟的物體上，因為它們上面會形成划痕。

• 數字全息顯微鏡（具有時間分辨率）是光學測試儀，它們使用共焦色差、激光三角測量、相干干涉、結構光掃描、光學差、分度棱鏡、參考鏡等方法確定表面粗糙度。儘管這些設備不如帶有觸控筆的鑽石模型，但它們非常精確到微米。它們的優點是它們給出結果非常快，不接觸物體，因此探頭不會損壞或劃傷它。在他們的幫助下，可以計算聚合物、凝膠等軟材料的不規則性。

• 光纖測試儀是一種檢測傳感器和數據分析儀相距較遠，但通過光纖連接的設備。電纜的使用提高了信號質量，因此工程師可以測量位於因任何原因無法到達的地方的物體的粗糙度。例如，在放射性室內、低溫裝置、長期不用於維護的有毒氣體罐內。

一些機器計算平面、曲面的不規則性。最近，出現了可以根據接收到的數據生成 3D 圖像的測試儀，能夠進行 3D 渲染。工業部門和科學界都使用這種計算，確保關鍵研究項目、基礎工業和過程控制的成功。 3D 表面測量（S 參數）由第一次 EC 研討會的參與者於 1991 年定義，此後根據 ISO 標准開發，以補充傳統的 2D（二維）計量 R 參數。

測試儀用於檢查金屬、油漆的磨損情況。隨著越來越多的電子元件採用薄膜加工技術生產，一些粗糙度計已經開始進行高精度計算，精確到納米級。

探針通常使用半徑為 2 µm 的尖端。然而，對於精密產品（一組具有特定物理和機械性能的合金），通常使用尖端在 0.1 到 0.5 µm 範圍內的探針。根據所使用的探頭，可能會出現測量誤差，因此請務必提前檢查特定尖端是否合適。關於如何選擇正確的測量算法，重要的是要說幾句話：

• 使用接觸式裝置，通過將探針與表面接觸來發現不規則性。相比之下，基於激光的傳感器在研究對像上發射光束，並且由於其波動特性，可以執行必要的操作。
• 正確的技術是取得成功的關鍵。例如，磨削的金屬零件通常垂直於加工方向進行測量，以便測試儀更好地捕捉物體的特徵。
• 速度也是精準計算的關鍵要素。首先它們執行緩慢，然後強度增加，直到從設定值開始出現顯著波動。需要注意的是，需要定期校准設備以獲得質量指標。

還有許多其他科學研究和工業控制領域可以從使用光學輪廓儀中獲益。具有低空間分辨率但大視場的設備可用於測量區域。

所有設備至少由兩部分組成。檢測器確定測試點在樣品上的位置，並且載物台固定物體。在某些系統中，只有一個部件在計算過程中移動，而在其他系統中兩者都移動。

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2022 年質量分析器評級

我們的列表基於真實評論，它考慮了熟悉產品及其功能的買家的意見。在這裡您可以找到比較表。

接觸

TMR 360

這種便攜式儀器是一種新產品。它採用最常見的處理器芯片，技術含量高。產品擁有2.7英寸OLED屏幕、藍牙、SD卡、無線遠程測量控制、MICRO-USB接口，大大提高了儀器的質量。 TMR 360 適用於現場和移動測量應用。該單元操作簡單，能夠執行複雜的功能，計算快速準確，攜帶方便，符合國際標準。本產品有多種可選配件，可連接PC和藍牙無線打印機。

要測量零件的粗糙度，請將探頭放在工件表面，然後運行測試儀。 Precision 軟件控制探頭。它以均勻的線速度在物體上移動，改變傳感器線圈的電感量，從而產生探測器靈敏度相位的輸出模擬信號，與表面粗糙度成正比。該信號被放大、轉換，然後傳輸到 PC。採集到的參數經過過濾，通過ARM芯片計算，顯示在OLED上，可以打印出來。該測試儀能夠使用該軟件執行高級數學分析。

技術指標：

選項	特徵
測量的粗糙度參數	Ra、Rz、Ry、Rq、Rt、Rp、Rv、R3z、Rmax、RSk、RSm、Rmr
測量範圍	Ra, Rq: 0.005-16 µm, Rz, R3z, Ry, Rt, Rp, Rm: 0.02-160 µm, Sk: 0-100%, S, Sm: 1 mm, tp: 0-100%
允許	0.01微米
最大評估長度	19 毫米/0.748 英寸
參考長度/測量範圍（自動）	0.25mm、0.8mm、2.5mm/±20μm、±40μm、±80μm、
估計長度	0.25; 0.8; 2.5 毫米選項，1L-5L
遵守	ISO、DIN、ANSI、JIS、FCC、CE
過濾方法	RC，PC-RC，高斯，D-P，
允許的基本誤差	≤ ± 10 %
測量結果的重複性（分散性）	<6%
傳感器類型	壓電晶體
金剛石規針尖半徑	5微米
電源類型	可充電鋰離子電池
工作溫度	0 °C...+40 °C
重量	440 克
方面	119×47×65mm

• 界面清晰；
• OLED屏幕；
• 便攜的;
• MICRO-USB 端口；
• 藍牙;
• SD卡;
• 無線遙控。

• 高價。

IShP-6100

“IShP” - 來自國內製造商的設備，計算產品的不均勻程度。細節可以是圓柱形或扁平的，帶有孔，該設備可以輕鬆應對帶有凹槽和凹槽的複雜、複雜物體的測量。該測試儀用於評估表面、金屬和其他材料的質量。該產品的功能基於金剛石探針的工作，它將其振動轉換為電壓的變化，設備的大腦是控制所有動作的微處理器。

在開始測量之前，必須將設備安裝在被測物體上。位於測試儀底部的針頭在表面上均勻移動。計算結果顯示在屏幕上。輪廓儀符合 ISO、DIN、ANSI 和 JIS 規定，通常在製造過程中用於確定和控制加工零件的不平整度。根據所選條件進行的所有計算都會記錄並顯示在 PC 上。該設備以“IShP-6100”、“IShP-210”和“IShP-110”的 3 種修改方式生產，它們在技術和計量參數上有所不同。

技術指標：

選項	特徵
設備自動關機，分鐘	5
食物	4 x 1.5 V 電池或 AA 型蓄電池
持續運行時間，h	≥10
外形尺寸（長×寬×高），mm，無	80×30×128
重量，克，不再	280
運行條件：
環境溫度，°С	0…+50
相對濕度， ％	30…80
使用壽命，年	5

• 強大的處理器；
• 使用方便;
• 符合 ISO、DIN、ANSI 和 JIS 規定。

• 沒有檢測到。

TMR100

您的注意力是一個數字便攜式單元“TMR 100”，它能夠即時準確地測量物體的粗糙度，精確到微米。與競爭對手相比，該產品的主要優勢是價格實惠。該設備的尺寸使您可以用一隻手舒適地進行計算。特殊驅動器與 30° 敏感測針相結合，有助於進行符合 ASTM 3894.5-2002 的測量。 TMR 100 的計算精度不亞於最好的帶有金剛石探針的電子設備的性能。

該設備能夠測量金屬物體、管道產品、混凝土構件的外表面或內表面的裂紋、碎屑深度，這為控制某些結構的質量和當前狀態提供了機會。需要注意的是，“TMR 100”不僅可以直接計算物體的粗糙度，還可以測量塗層的厚度。

技術指標：

選項	特徵
測量範圍，毫米	0...5,0
分辨率（刻度分辨率），µm	1
精度，微米	±2
溫度範圍：
開發	0...+40
貯存	-10...+60
環境濕度，沒有了	80%
由電池類型 RS44 (1 pc) 供電	1.5V
總尺寸（以防萬一），厘米	40*30*20
重量，公斤	1,5

• 在任何時候確定零指標；
• 通過反向轉換以米和英寸顯示數據；
• 一根碳化鎢針能夠進行多達 2 萬次測量；
• 內存允許您存儲大量數據；
• 找出最大、最小偏差、公差和絕對指標；
• 通過電纜將數據傳輸到計算機；
• 用作機械塗層測厚儀；
• 性價比。

• 沒有檢測到。

TR110

“TR100”用於測量圓柱形平面、傾斜表面的不平整度。該設備連接到物體上，之後集成在設備下部的探頭，在表面上均勻移動，執行計算。指示符顯示在液晶顯示屏上。改進型“TR110”與“TR100”的不同之處在於改進的設計，帶有 LED 背光的大顯示屏

該設備的準確性是通過金剛石針實現的，其振動導致電壓與這些運動成比例的變化。粗糙度計算被打印到打印機或傳輸到 PC 進行後續計算。根據型號範圍，這些設備配備了一個角度為 90 度、半徑為 2、5 或 10 微米的探頭，而被測物體上的力可以分別為 0.75、4 或 16 mN。需要注意的是，該設備配有專用檯面，大大簡化了工作。

技術指標：

選項	特徵
測量的粗糙度參數	Ra和Rz
測量範圍由參數 Ra, µm	從 0.05 到 10
參數 Rz, µm 的指示範圍	從 1 到 50
截距，λs，mm	0,25; 0,8; 2,5
測量段最大長度，mm	6
估計長度，毫米	1,25; 4,0; 5,0
評估長度中的基本長度數	5 或 2（對於 λc=2.5）
靜態測量力，不大於，N	0.016
靜態測量力，不大於，N	0.016
探頭曲率半徑，µm	10,0±2,5
銳化shupa的角度，…°	90 (+5 , -10)
儀器允許的基本相對誤差限值Ra，%	15
傳感器類型	壓電
速度，毫米/秒	1
外形尺寸 TR100，毫米：
長度	110
寬度	70
高度	24
重量，不超過，公斤	0.2

• 體積小，價格實惠；
• 大量計算；
• 能夠檢查大多數材料；
• 按照 Ra、Rz 標準工作；
• 外部校準；
• 符合 ISO、DIN（德國標準協會）規定的要求。

• 沒有檢測到。

SJ-210

“SJ-210”配備換能器、探頭、高速處理器。粗糙度計算作為帶有金剛石針的設備的標準執行。探頭均勻移動，檢查物體，導致電壓成比例變化。然後信號通過微處理器進行轉換並進入 LCD 屏幕。測量結果以與指定參數的偏差圖表的形式顯示。讀數可以通過 USB 端口傳輸到 PC 以供進一步工作。

“SJ-210”能夠在 SD 卡上存儲一萬次計算的讀數。該設備配有內置打印機和触摸屏。該設備通過內置整流器或電池從交流電源插座運行，這使得該設備便於攜帶，可以在遠離電源的情況下使用。

技術指標：

選項	特徵
測量的粗糙度參數	Ra、Ry、Rz、Rt、Rp、Rq、Rv、Sm、S、Pc、mr(c)、dc、Rpk、Rvk、Rk、Mr1、Mr2、Lo、R、AR、Rx、A1、A2、Vo
分析曲線	-
測量範圍/分辨率，µm	360/0.02（-200 到 +160）； 100/0.006（-50 到 +50）； 25/0.002（-12.5 到 +12.5）。
放大倍數，X：
垂直的	10 - 10,000（自動）
水平的	1 - 1000（自動）
音高截止	0,08; 0,25; 0,8; 2,5
λc, 毫米	2,5; 8
估計長度，毫米	分鐘。 0.08，最大值16.0
傳感器位移，毫米	17.5 或 5.6
獨立支撐平面度偏差，µm	-
測量力，mN	0.75
每個估計長度的基本長度數	從 1 到 10（從 0.08 到 16 毫米，到 0.01 毫米）。
探頭半徑，微米	2 或 5 (60º/90º); 2RC75%, 2RC-PC
過濾器類型	高斯濾波器
允許的基本系統誤差限值，%	5
外形尺寸，毫米	160*62,8*52,1
食物	內置交流適配器或可充電鎳氫電池
重量，公斤	0.3
處理器單元，公斤	0.2
工作溫度範圍，℃	從 5 到 35

• 從蓄電池和插座工作；
• SD 卡可存儲多達 10,000 次計算；
• 觸摸板；
• 低價。

• 沒有檢測到。

MarSurf PS 10

您的注意 - 一個便攜式設備，它可以在遠離電源的情況下使用。該設備能夠進行的計算限制為 350 µm（從 -200 到 150）。內置探頭無需調試，可按照Rz標度任意角度進行測量。產品的最大行程為 17.5 毫米。該設備操作簡單，符合 DIN EN ISO 3274 標準。PHT 系列符合人體工程學的按鍵具有一個開放式滑塊，可在很大程度上防止污垢和油污的積聚。調整觸控筆的高度允許在不同的級別進行計算。

由於其堅固的外殼，MarSurf PS 10 對不利的操作條件不敏感。該設備具有符合人體工程學的設計、位置方便的控件和易於閱讀的觸摸屏。合適的配置，再加上設備的小重量（約 500 克），適合移動使用。帶有用於攜帶設備的皮帶的箱子增加了舒適度。

需要注意的是，集成的大容量電池，可以在沒有網絡的情況下長時間工作。如果“MarSurf PS 10”通過整流器連接到電源插座，它就可以靜止不動。設備的所有功能都匯總在一個邏輯結構化的菜單中，可通過觸摸屏訪問。設備設置被鎖定並額外防止使用代碼進行未經授權的更改。

技術指標：

選項	特徵
粗糙度參數 Ra, µm 的測量範圍	0.02 至 10
粗糙度參數 Rz 的指示範圍，	0.1 至 50
探頭行程範圍，µm	-200 至 +170
粗糙度參數 Ra 測量的允許基本相對誤差限值，%	5
探測軌道長度，mm	0,56; 1,5; 4,8; 16
測量力，mN	0.6 至 0.8
探頭半徑，微米	2 (5)*
過濾器	相位校正（高斯濾波器）ISO 11562 (GOST R8.562-2009)，RS 濾波器符合 ISO 3274 (GOST 19300-86)
節距截斷 λс, mm	0,08; 0,25; 0,8; 2,5
接口	USB 設備、MarConnect（RS232、USB）、用於 SD TM / SDHC 卡的 micro SD 插槽，最大 32 GB
符合 GOST 14254 的外殼防護等級	IP40
電池	鋰離子電池，3.7 V，功率 11.6 V∙A
額定適配器電源電壓，V	100 到 264
電源頻率，Hz	50/60
外形尺寸，不超過，mm：
長度	160
寬度	77
高度	50
重量不超過，公斤	0,5
運行條件：
正常溫度範圍，⁰С	+15 至 +25
溫度值的工作範圍，⁰С	+5 至 +40
相對空氣濕度，不大於，%	85 非冷凝

• 直觀的操作；
• 自動選擇計算步驟的截止值；
• 開始鍵同時作為返回開始菜單首頁的按鈕；
• 通過觸摸屏即時訪問主要功能。

• 沒有檢測到。

光學的

衝浪學院 GLtech

光學測試儀“Surfiew Academy”確定物體的不均勻程度。該設備掃描單個點和線，進行 3 維渲染。該設備通過測量表面台階的高度來再現細節的形態。 Surfiew Academy 最重要的使用領域是：

• 並行控制對象的 2D 和 3D 配置；
• 評估結構水平、線性分析、圓、弧、角度、尺寸測量；
• 粗糙度特性的測定；
• 缺陷識別：划痕、碎屑、裂紋。

重要的是要注意使用設備的行業領域：

• 半導體；
• LCD/OLED 屏幕
• 印刷電路板的基礎；
• 微光學；
• MEMS設計；
• 激光行業；
• 生產噴墨打印機、繪圖儀。

技術指標：

選項	特徵
垂直分辨率	VSI/VEI < 0.5 納米，VPI < 0.1 納米
水平分辨率	0.03 – 7.2 µm（取決於放大倍率和相機）
高度測量重複性	≤ 0.3% 在 1σ
掃描速度	8 – 40 微米/秒
掃描方式	基於壓電的掃描儀，閉環
掃描範圍	≤ 100 µm（壓電 ≤ 250 µm 可選）
鏡片	一
成像鏡頭	1.0X
相機	1/2”，單色（2/3”，1”可選）
背光	白光 LED
篩選	2（手動更改）
自動對焦	—
軟件拼接	不是
樣品反射率	0.05 – 100%
最大樣品重量	≤ 2 公斤
舞台移動範圍	50 × 50 毫米（手動）
掃描頭行程範圍	20 毫米（手動）
表傾斜	± 2°（手動）
操縱桿	—
舞台尺寸	120 × 120 毫米
隔振	被動型（2.5 Hz 垂直共振）
系統總重量	≈ 10 公斤
電源電壓	110 V / 220 V (± 10%), 15 A, 50/60 Hz
軟件	表面視圖/表面貼圖（Windows 10 64 位）

• 高度誤差 0.1 納米；
• 設備分辨率不取決於所使用的鏡頭；
• 配備不同顯示角度的光學器件；
• 評估透明、半透明、不透明的對象；
• 易於計算；
• 閉環壓電傳感器保證測量精度；
• Surfiew Academy 跟踪個人狀態；
• 增加可重複計算的重複性。

• 沒有檢測到。

納米系統 NV-1800

“納米系統”是一種非接觸式光學設備，用於微電子生產各個階段的質量控制系統。該設備供研發部門使用。 “NV”系列包括三種主要類型的輪廓儀，不同的是可以使用的樣品的最大尺寸。

獲得專利的 WSI/PSI 系統可測量大量物體。它們的材料結構、特性可能會有所不同，包括 2D 和 3D 表面配置、形狀、高度（垂直 0.1 nm，橫向分辨率 0.2 µm）。

WSI（白光掃描干涉儀）是一種技術，可讓您以低誤差 (0.1 nm) 快速測量面積、高度和體積。 Wsi NanoSystem 能夠在幾秒鐘內輕鬆檢查樣品，高度從 0.1 nm 到 10000 µm，同時仍能評估 3D 樣品的真實形狀。重複性為 0.1% (1σ)。

技術指標：

選項	特徵
測量方法	白光掃描干涉儀 (WSI) / 相移干涉儀 (PSI)
干涉鏡頭	單鏡頭
光	白光 LED
掃描方式	壓電掃描
掃描範圍	最大270um
掃描速度	大於 12um/sec（lX™ 5X 可選）
傾斜	±3°
垂直分辨率	WSI：大於0.5nm/ PSI：大於0.1nm
橫向分辨率	0.2~4um
重複性	超過 0.5%
X/Y 運動	50x50mm（手動）
移動 Z	30mm（手動）
自動對焦	+
環境條件	20±20C，Rh：60%以上
軟件	納米視圖、納米地圖
一台電腦	窗戶
鏡片	0.5x、0.75x、lx、1.5x、2x（可選）
干涉鏡頭	2.5x、5x、10x、20x、50x、100x（可選）
儀表台	150x150mm

• 便攜式模型；
• 可接受的價格；
• 手動調整工作台（50x50 毫米）；
• 沿Z軸移動（上下）30 mm；
• 一個鏡頭。

• 沒有檢測到。

MicroXAM-100

國外廠商的產品。它專為快速、準確的研究而設計，設備的設計沒有大量複雜的零件，操作直觀。 “MicroXAM-100”集成了相移、干涉儀和光學顯微鏡技術。該設備能夠對具有納米誤差的物體的不平整度進行非接觸式 3D 測量。

該設備結合了大量功能，為所有者提供了評估對象的充足機會，包括獲得三維描述。所有指標都是高質量的，無論是相對光滑的零件還是粗糙的零件。

技術指標：

選項	特徵
垂直步進測量的重現性	1 納米 (1σ)
測量誤差	<0,1%
垂直掃描範圍	250 µm（10 mm 可選）
垂直掃描速度	高達 7.2 µm/s
視野範圍	101x101 微米 - 1.0x1.0 毫米
攝像機分辨率	480x480
舞台移動範圍	100х100 毫米
舞台傾斜	±6°
隔振	被動的
鏡頭放大倍率	50 倍、20 倍、10 倍、5 倍
長度	406mm
寬度	304mm
高度	431毫米
儀器重量	22.7 公斤
裝運重量	68.0 公斤

• 3D渲染，提取單條掃描線的輪廓；
• 評估粗糙度、不規則性、材料厚度、切屑、裂紋和其他幾何參數；
• 由於攝像機的存在，簡單、直觀的控制；
• 在不停止研究過程的情況下轉移計算；
• 對 SPIP 數據進行數學分析的可能性；
• 包括掃描台（從 100X100 µm 到 1000X1000 mm）

• 沒有檢測到。

Swift PRO Duo

Swift PRO 是一系列功能強大、易於使用的非接觸式測量系統。該設備結合了最新的光學視頻測量技術。它是廣泛應用的正確工具，從電子和航空航天到需要質量控制的塑料和醫療部件。憑藉其設計、快速、準確的 3 軸測量和用戶友好的界面，Swift PRO 為操作員提供了一種快速、簡單的報告方式。

基本上很簡單，該系統可供需要最少培訓的工人或工程師使用。這顯著降低了人員成本、操作員錯誤的數量。多功能軟件“Swift PRO”易學易用，提供即時的輪廓數據，先進的報告，保障系統管理。

使用帶有視頻邊緣檢測 (VED) 和可調節舞台照明的新型高清攝像機，可以更好地檢查以前難以查看的標本。QC3000微處理器和PC軟件提供高達5 µm的測量精度，“Swift PRO”體積小。

技術指標：

選項	特徵
技術	光學、視頻
功能	形狀、厚度測量
申請地點	實驗室、生產線
配置	桌面
其他特點	非接觸式，自動

• 小尺寸；
• 強大的處理器；
• 具有視頻邊緣檢測功能的攝像機；
• 多功能軟件；
• 非接觸式系統。

• 沒有檢測到。

我們希望這些提示能幫助您做出選擇。輪廓儀是一種相當複雜的設備，因此在做出最終選擇之前有必要諮詢專家。