粗糙度计,也称为轮廓仪,是测量物体表面光滑度的仪器。主要类型的测试仪使用探针或激光进行计算。
在我们的评论中,我们将提供建议:在选择产品时要寻找什么以免出错,购买哪种公司型号更好。我们将熟悉流行的制造商,介绍他们的设备,并以平均价格为您提供指导。
内容
获取任何表面粗糙度的数据,计算曲率系数 - 这些是机械工程师的任务,让您可以创建准确的模拟模型。人眼看起来光滑的物体对于受过训练的技术人员来说可能不是那么理想。确定两个物体之间发生的摩擦应力的能力使您能够准确预测特定组件的生命周期。轮廓仪用于确定制动系统内部的表面粗糙度,同时确保最大的车辆安全性。
表面粗糙度根据 ISO 4287 标准从“N12”到“N1”进行分类,它们的测量从 50 µm 到 25 nm 的微观斜率、峰和谷之间的最大高度差开始。对于设计高精度系统并希望预测其性能、预期生命周期的工程师来说,检测物体不规则性的能力至关重要:
让我们分析一下有效测试器模型的功能,它的受欢迎程度是市场上最高的:
一个。机械的;
湾。感应的;
C。电容;
d。压电;
e.机械溜冰鞋。
由于信号是由金刚石测针的模拟运动决定的,其尺寸、半径、夹紧力、传感器速度是设备精度和分辨率的决定因素。对于需要 10-20nm 粗糙度计算且表面不够干净的应用,金刚石尖端轮廓仪是首选,因此接触方法更有效,因为表面反射率和着色可以欺骗其他(光学)设备。金刚石测针设备的缺点是它不能用在柔软的物体上,因为它们上面会形成划痕。
一些机器计算平面、曲面的不规则性。最近,出现了可以根据接收到的数据生成 3D 图像的测试仪,能够进行 3D 渲染。工业部门和科学界都在使用这种计算,确保关键研究项目、基础行业和过程控制的成功。 3D 表面测量(S 参数)于 1991 年由第一次 EC 研讨会的参与者定义,此后根据 ISO 标准开发,以补充传统的 2D(二维)计量 R 参数。
测试仪用于检查金属、油漆的磨损情况。随着越来越多的电子元件使用薄膜加工技术生产,一些粗糙度计已经开始进行高精度计算,精确到纳米级。
探针通常使用半径为 2 µm 的尖端。然而,对于精密产品(一组具有特定物理和机械性能的合金),通常使用尖端在 0.1 到 0.5 µm 范围内的探针。根据所使用的探头,可能会出现测量误差,因此请务必提前检查特定尖端是否合适。关于如何选择正确的测量算法,重要的是要说几句话:
还有许多其他科学研究和工业控制领域可以从使用光学轮廓仪中获益。具有低空间分辨率但大视场的设备可用于测量区域。
所有设备至少由两部分组成。检测器确定测试点在样品上的位置,并且载物台固定物体。在某些系统中,只有一个部件在计算过程中移动,而在其他系统中两者都移动。
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这种便携式仪器是一种新产品。它采用最常见的处理器芯片,技术含量高。产品拥有2.7英寸OLED屏幕、蓝牙、SD卡、无线远程测量控制、MICRO-USB接口,大大提高了仪器的质量。 TMR 360 适用于现场和移动测量应用。该单元操作简单,能够执行复杂的功能,计算快速准确,携带方便,符合国际标准。本产品有多种可选配件,可连接PC和蓝牙无线打印机。
要测量零件的粗糙度,请将探头放在工件表面,然后运行测试仪。 Precision 软件控制探头。它以均匀的线速度在物体上移动,改变传感器线圈的电感量,从而产生探测器灵敏度相位的输出模拟信号,与表面粗糙度成正比。该信号被放大、转换,然后传输到 PC。采集到的参数经过过滤,通过ARM芯片计算,显示在OLED上,可以打印出来。该测试仪能够使用该软件执行高级数学分析。
技术指标:
选项 | 特征 |
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测量的粗糙度参数 | Ra、Rz、Ry、Rq、Rt、Rp、Rv、R3z、Rmax、RSk、RSm、Rmr |
测量范围 | Ra, Rq: 0.005-16 µm, Rz, R3z, Ry, Rt, Rp, Rm: 0.02-160 µm, Sk: 0-100%, S, Sm: 1 mm, tp: 0-100% |
允许 | 0.01微米 |
最大评估长度 | 19 毫米/0.748 英寸 |
参考长度/测量范围(自动) | 0.25mm、0.8mm、2.5mm/±20μm、±40μm、±80μm、 |
估计长度 | 0.25; 0.8; 2.5 毫米选项,1L-5L |
遵守 | ISO、DIN、ANSI、JIS、FCC、CE |
过滤方法 | RC,PC-RC,高斯,D-P, |
允许的基本误差 | ≤ ± 10 % |
测量结果的重复性(分散性) | <6% |
传感器类型 | 压电晶体 |
金刚石规针尖半径 | 5微米 |
电源类型 | 可充电锂离子电池 |
工作温度 | 0 °C...+40 °C |
重量 | 440 克 |
方面 | 119×47×65mm |
“IShP” - 来自国内制造商的设备,计算产品的不均匀程度。细节可以是圆柱形或扁平的,带有孔,该设备可以轻松应对带有凹槽和凹槽的复杂、复杂物体的测量。该测试仪用于评估表面、金属和其他材料的质量。该产品的功能基于金刚石探针的工作,它将其振动转换为电压的变化,设备的大脑是控制所有动作的微处理器。
在开始测量之前,必须将设备安装在被测物体上。位于测试仪底部的针头在表面上均匀移动。计算结果显示在屏幕上。轮廓仪符合 ISO、DIN、ANSI 和 JIS 规定,经常在制造过程中用于确定和控制加工零件的不平整度。根据所选条件进行的所有计算都会记录并显示在 PC 上。该设备以“IShP-6100”、“IShP-210”和“IShP-110”的 3 种修改方式生产,它们在技术和计量参数上有所不同。
技术指标:
选项 | 特征 |
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设备自动关机,分钟 | 5 |
食物 | 4 x 1.5 V 电池或 AA 型蓄电池 |
持续运行时间,h | ≥10 |
外形尺寸(长×宽×高),mm,无 | 80×30×128 |
重量,克,没有更多 | 280 |
运行条件: | |
环境温度,°C | 0…+50 |
相对湿度, % | 30…80 |
使用寿命,年 | 5 |
您的注意力是一个数字便携式单元“TMR 100”,它能够即时准确地测量物体的粗糙度,精确到微米。与竞争对手相比,该产品的主要优势在于其实惠的价格。该设备的尺寸使您可以用一只手舒适地进行计算。特殊驱动器与 30° 敏感测针相结合,有助于进行符合 ASTM 3894.5-2002 的测量。 TMR 100 的计算精度不亚于最好的带有金刚石探针的电子设备的性能。
该设备能够测量金属物体、管道产品、混凝土构件的外表面或内表面的裂纹、碎屑深度,这为控制某些结构的质量和当前状态提供了机会。需要注意的是,“TMR 100”不仅可以直接计算物体的粗糙度,还可以测量涂层的厚度。
技术指标:
选项 | 特征 |
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测量范围,毫米 | 0...5,0 |
分辨率(刻度分辨率),µm | 1 |
精度,微米 | ±2 |
温度范围: | |
开发 | 0...+40 |
贮存 | -10...+60 |
环境湿度,没有了 | 80% |
由电池类型 RS44 (1 pc) 供电 | 1.5V |
总尺寸(以防万一),厘米 | 40*30*20 |
重量,公斤 | 1,5 |
“TR100”用于测量圆柱形平面、倾斜表面的不平整度。该设备连接到物体上,之后集成在设备下部的探头,在表面上均匀移动,执行计算。指示符显示在液晶显示屏上。改进型“TR110”与“TR100”的不同之处在于改进的设计,带有 LED 背光的大显示屏
该设备的准确性是通过金刚石针实现的,其振动导致电压与这些运动成比例的变化。粗糙度计算被打印到打印机或传输到 PC 进行后续计算。根据型号范围,这些设备配备了一个角度为 90 度、半径为 2、5 或 10 微米的探头,而被测物体上的力可以分别为 0.75、4 或 16 mN。需要注意的是,该设备配有专用台面,大大简化了工作。
技术指标:
选项 | 特征 |
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测量的粗糙度参数 | Ra和Rz |
测量范围由参数 Ra, µm | 从 0.05 到 10 |
参数 Rz, µm 的指示范围 | 从 1 到 50 |
截距,λs,mm | 0,25; 0,8; 2,5 |
测量段最大长度,mm | 6 |
估计长度,毫米 | 1,25; 4,0; 5,0 |
评估长度中的基本长度数 | 5 或 2(对于 λc=2.5) |
静态测量力,不大于,N | 0.016 |
静态测量力,不大于,N | 0.016 |
探头曲率半径,µm | 10,0±2,5 |
锐化shupa的角度,…° | 90 (+5 , -10) |
仪器允许的基本相对误差限值Ra,% | 15 |
传感器类型 | 压电 |
速度,毫米/秒 | 1 |
外形尺寸 TR100,毫米: | |
长度 | 110 |
宽度 | 70 |
高度 | 24 |
重量,不超过,公斤 | 0.2 |
“SJ-210”配备换能器、探头、高速处理器。粗糙度计算作为带有金刚石针的设备的标准执行。探头均匀移动,检查物体,导致电压成比例变化。然后信号通过微处理器进行转换并进入 LCD 屏幕。测量结果以与指定参数的偏差图表的形式显示。读数可以通过 USB 端口传输到 PC 以供进一步工作。
“SJ-210”能够在 SD 卡上存储一万次计算的读数。该设备配有内置打印机和触摸屏。该设备通过内置整流器或电池从交流电源插座运行,这使得该设备便于携带,可以在远离电源的情况下使用。
技术指标:
选项 | 特征 |
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测量的粗糙度参数 | Ra、Ry、Rz、Rt、Rp、Rq、Rv、Sm、S、Pc、mr(c)、dc、Rpk、Rvk、Rk、Mr1、Mr2、Lo、R、AR、Rx、A1、A2、Vo |
分析曲线 | - |
测量范围/分辨率,µm | 360/0.02(-200 到 +160); 100/0.006(-50 到 +50); 25/0.002(-12.5 至 +12.5)。 |
放大倍数,X: | |
垂直的 | 10 - 10,000(自动) |
水平的 | 1 - 1000(自动) |
音高截止 | 0,08; 0,25; 0,8; 2,5 |
λc, 毫米 | 2,5; 8 |
估计长度,毫米 | 分钟。 0.08,最大值16.0 |
传感器位移,毫米 | 17.5 或 5.6 |
独立支撑平面度偏差,µm | - |
测量力,mN | 0.75 |
每个估计长度的基本长度数 | 从 1 到 10(从 0.08 到 16 毫米,到 0.01 毫米)。 |
探头半径,微米 | 2 或 5 (60º/90º); 2RC75%, 2RC-PC |
过滤器类型 | 高斯滤波器 |
允许的基本系统误差限值,% | 5 |
外形尺寸,毫米 | 160*62,8*52,1 |
食物 | 内置交流适配器或可充电镍氢电池 |
重量,公斤 | 0.3 |
处理器单元,公斤 | 0.2 |
工作温度范围,℃ | 从 5 到 35 |
您的注意 - 一个便携式设备,它可以在远离电源的情况下使用。该设备能够进行的计算限制为 350 µm(从 -200 到 150)。内置探头无需调试,可按照Rz标度任意角度进行测量。产品的最大行程为 17.5 毫米。该设备操作简单,符合 DIN EN ISO 3274 标准。PHT 系列符合人体工程学的按键具有一个开放式滑块,可在很大程度上防止污垢和油污的积聚。调整触控笔的高度允许在不同的级别进行计算。
由于其坚固的外壳,MarSurf PS 10 对不利的操作条件不敏感。该设备具有符合人体工程学的设计、位置方便的控件和易于阅读的触摸屏。合适的配置,再加上设备的小重量(约 500 克),适合移动使用。带有用于携带设备的皮带的箱子增加了舒适度。
需要注意的是,集成的大容量电池,可以在没有网络的情况下长时间工作。如果“MarSurf PS 10”通过整流器连接到电源插座,它就可以静止不动。设备的所有功能都汇总在一个逻辑结构化的菜单中,可通过触摸屏访问。设备设置被锁定并额外防止使用代码进行未经授权的更改。
技术指标:
选项 | 特征 |
---|---|
粗糙度参数 Ra, µm 的测量范围 | 0.02 至 10 |
粗糙度参数 Rz 的指示范围, | 0.1 至 50 |
探头行程范围,µm | -200 至 +170 |
粗糙度参数 Ra 测量的允许基本相对误差限值,% | 5 |
探测轨道长度,mm | 0,56; 1,5; 4,8; 16 |
测量力,mN | 0.6 至 0.8 |
探头半径,微米 | 2 (5)* |
过滤器 | 相位校正(高斯滤波器)ISO 11562 (GOST R8.562-2009),RS 滤波器符合 ISO 3274 (GOST 19300-86) |
节距截断 λс, mm | 0,08; 0,25; 0,8; 2,5 |
接口 | USB 设备、MarConnect(RS232、USB)、用于 SD TM / SDHC 卡的 micro SD 插槽,最大 32 GB |
符合 GOST 14254 的外壳防护等级 | IP40 |
电池 | 锂离子电池,3.7 V,功率 11.6 V∙A |
额定适配器电源电压,V | 100 到 264 |
电源频率,Hz | 50/60 |
外形尺寸,不超过,mm: | |
长度 | 160 |
宽度 | 77 |
高度 | 50 |
重量不超过,公斤 | 0,5 |
运行条件: | |
正常温度范围,⁰С | +15 至 +25 |
温度值的工作范围,⁰С | +5 至 +40 |
相对空气湿度,不大于,% | 85 非冷凝 |
光学测试仪“Surfiew Academy”确定物体的不均匀程度。该设备扫描单个点和线,进行 3 维渲染。该设备通过测量表面台阶的高度来再现细节的形态。 Surfiew Academy 最重要的使用领域是:
重要的是要注意使用设备的行业领域:
技术指标:
选项 | 特征 |
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垂直分辨率 | VSI/VEI < 0.5 纳米,VPI < 0.1 纳米 |
水平分辨率 | 0.03 – 7.2 µm(取决于放大倍率和相机) |
高度测量重复性 | ≤ 0.3% 在 1σ |
扫描速度 | 8 – 40 微米/秒 |
扫描方式 | 基于压电的扫描仪,闭环 |
扫描范围 | ≤ 100 µm(压电 ≤ 250 µm 可选) |
镜片 | 一 |
成像镜头 | 1.0X |
相机 | 1/2”,单色(2/3”,1”可选) |
背光 | 白光 LED |
筛选 | 2(手动更改) |
自动对焦 | — |
软件拼接 | 不是 |
样品反射率 | 0.05 – 100% |
最大样品重量 | ≤ 2 公斤 |
舞台移动范围 | 50 × 50 毫米(手动) |
扫描头行程范围 | 20 毫米(手动) |
表倾斜 | ± 2°(手动) |
操纵杆 | — |
舞台尺寸 | 120 × 120 毫米 |
隔振 | 被动型(2.5 Hz 垂直共振) |
系统总重量 | ≈ 10 公斤 |
电源电压 | 110 V / 220 V (± 10%), 15 A, 50/60 Hz |
软件 | 表面视图/表面贴图(Windows 10 64 位) |
“纳米系统”是一种非接触式光学设备,用于微电子生产各个阶段的质量控制系统。该设备供研发部门使用。 “NV”系列包括三种主要类型的轮廓仪,不同的是可以使用的样品的最大尺寸。
获得专利的 WSI/PSI 系统可测量大量物体。它们的材料结构、特性可能会有所不同,包括 2D 和 3D 表面配置、形状、高度(垂直 0.1 nm,横向分辨率 0.2 µm)。
WSI(白光扫描干涉仪)是一种技术,可让您以低误差 (0.1 nm) 快速测量面积、高度和体积。 Wsi NanoSystem 能够在几秒钟内轻松检查样品,高度从 0.1 nm 到 10000 µm,同时仍能评估 3D 样品的真实形状。重复性为 0.1% (1σ)。
技术指标:
选项 | 特征 |
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测量方法 | 白光扫描干涉仪 (WSI) / 相移干涉仪 (PSI) |
干涉镜头 | 单镜头 |
光 | 白光 LED |
扫描方式 | 压电陶瓷扫描 |
扫描范围 | 最大270um |
扫描速度 | 大于 12um/sec(lX™ 5X 可选) |
倾斜 | ±3° |
垂直分辨率 | WSI:大于0.5nm/ PSI:大于0.1nm |
横向分辨率 | 0.2~4um |
重复性 | 超过 0.5% |
X/Y 运动 | 50x50mm(手动) |
移动 Z | 30mm(手动) |
自动对焦 | + |
环境条件 | 20±20C,Rh:60%以上 |
软件 | 纳米视图、纳米地图 |
一台电脑 | 窗户 |
镜片 | 0.5x、0.75x、lx、1.5x、2x(可选) |
干涉镜头 | 2.5x、5x、10x、20x、50x、100x(可选) |
仪表台 | 150x150mm |
国外厂商的产品。它专为快速、准确的研究而设计,设备的设计没有大量复杂的零件,操作直观。 “MicroXAM-100”集成了相移、干涉仪和光学显微镜技术。该设备能够对具有纳米误差的物体的不平整度进行非接触式 3D 测量。
该设备结合了大量功能,为所有者提供了评估对象的充足机会,包括获得三维描述。所有指标都是高质量的,无论是相对光滑的零件还是粗糙的零件。
技术指标:
选项 | 特征 |
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垂直步进测量的重现性 | 1 纳米 (1σ) |
测量误差 | <0,1% |
垂直扫描范围 | 250 µm(10 mm 可选) |
垂直扫描速度 | 高达 7.2 µm/s |
视野范围 | 101x101 微米 - 1.0x1.0 毫米 |
摄像机分辨率 | 480x480 |
舞台移动范围 | 100х100 毫米 |
舞台倾斜 | ±6° |
隔振 | 被动的 |
镜头放大倍率 | 50 倍、20 倍、10 倍、5 倍 |
长度 | 406mm |
宽度 | 304mm |
高度 | 431毫米 |
仪器重量 | 22.7 公斤 |
装运重量 | 68.0 公斤 |
Swift PRO 是一系列功能强大、易于使用的非接触式测量系统。该设备结合了最新的光学视频测量技术。它是广泛应用的正确工具,从电子和航空航天到需要质量控制的塑料和医疗部件。凭借其设计、快速、准确的 3 轴测量和用户友好的界面,Swift PRO 为操作员提供了一种快速、简单的报告方式。
基本上很简单,该系统可供需要最少培训的工人或工程师使用。这显着降低了人员成本、操作员错误的数量。多功能软件“Swift PRO”易学易用,提供即时的轮廓数据,先进的报告,保障系统管理。
使用带有视频边缘检测 (VED) 和可调节舞台照明的新型高清摄像机,可以更好地检查以前难以查看的标本。QC3000微处理器和PC软件提供高达5 µm的测量精度,“Swift PRO”体积小。
技术指标:
选项 | 特征 |
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技术 | 光学、视频 |
功能 | 形状、厚度测量 |
申请地点 | 实验室、生产线 |
配置 | 桌面 |
其他特点 | 非接触式,自动 |
我们希望这些提示能帮助您做出选择。轮廓仪是一种相当复杂的设备,因此在做出最终选择之前有必要咨询专家。